• 設備概述:

    X450-300 是一套典型的計算機斷層掃描(CT)和數字成像(DR)系統,本系統具有高空間分辨率、密度識別、探傷檢測、尺寸測量和逆向工程(RE)等功能。X450-300 系統可以在以下幾種模式下獲取數據:僅旋轉模式(RO 模式)、非對 稱旋轉模式、連續旋轉、步進模式。螺旋 CT 掃描(HCT)和實時成像(RTR) 的模式。該系統可用多種 X 射線源和探測器配套使用,有很大的靈活性,適用 于多種不同應用。


    配置如下:

    ? 雙焦點 450kV X射線源

    ? FineTec 300 kV 微焦點 X 射線源

    ? PerkinElmer® XRD 1621? 2048x2048 非晶硅平板探測器

    ? 線陣列探測器

    ? 鎢制 X 射線束光窗口(前準直器),探測器寬度準直器(后準直器)

    ? 采用英特爾志強圖形工作站,GPU 加速重建的 VG 軟件,液晶顯示器

    ? 高精度機床級七軸運動系統配私服驅動器


    技術參數:


    CT功能:

    內部缺陷分析及孔隙率測量     壁厚分析     結構尺寸精度測量

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